




---质谱检漏仪是180°磁偏转型的质谱分析计,其基本原理是根据离子在磁场中运动时,不同质荷比的离子具有不同的偏转半径来实现不同种类离子的分离。检漏仪主要由质谱室、真空系统及电气控制部分组成。检漏工作时先打开抽空阀前级泵对检漏接口抽真空,当真空度p1 优于200 pa 时,打开入口阀1、2,关闭抽空阀,测漏系统,---气将逆着分子泵的抽气方向进入质谱室中被检测出来,此时检漏仪的较小可检漏率为10- 10 pa·m3/s。前级泵继续对检漏接口抽真空,当p1降至20 pa 时,入口阀2 关闭,入口阀3 打开,分子泵的高抽速用于抽空试件,检漏仪的反应时间缩短,此时检漏仪的较小可检漏率为10- 12 pa·m3/s。
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一、负压法
负压法是一种常见而方便的检漏方法。当进行---气检漏时,---被连接到充满---气的瓶子中,并且使用喷将---喷射到泄漏部分。如果---气从泄漏孔流入压力容器装置,装置中---气的分压将上升,电力真空箱测漏系统,泄漏率将显示在---气检漏设备上。它是否合格取决于标准泄漏率。如果超过标准泄漏率,将被视为不合格。
二、正压法
正压方法是首先用一种以上的---压---气或---气的混合气体填充压力容器装置。在压力容器装置的外部检测中,泄漏孔泄漏到外部---气中,然后找到泄漏孔。当用抽吸搜索---气时,一旦---气被吸入,---气检漏设备将显示泄漏率值。在这种情况下,由于压力容器装置的外部是一个---压,充入压力容器装置的气压需要至少一个---压或更多个---压。然而,压力不应太高。如果压力过高,插入设备的压力表或其他插件会弹出,造成伤害和其他危险事故。
三、---罩法
在这种方法中,用塑料薄膜包裹被测容器,首先除去罩子中的空气,然后充入---气或---气混合气体,检漏仪与被测容器的内部连接,当检漏仪显示泄漏率时,指示泄漏。这个泄漏率称为总泄漏率。总泄漏率是所有泄漏率的总和。如果总泄漏率不超过标准值,则每个泄漏率不超过标准值;如果总泄漏率超过标准值,检查每个点的泄漏率是否超过标准值。然后调整修改超过标准值的泄漏孔,直至达到合格标准。
采用背压法检漏时,首先将被检产品置于高压的---气室中,浸泡数小时或数天,如果被检产品表面有漏孔,---气便通过漏孔压入被检产品内部密封腔中,使内部密封腔中---分压力上升。然后取出被检产品,将表面的残余---气吹除后再将被检产品放入与检漏仪相连的真空容器内,被检产品内部密封腔内的---气会通过漏孔泄漏到真空容器,再进入---质谱检漏仪,从而实现被检产品总漏率测量。检漏仪给出的漏率值为测量漏率,需要通过换算公式计算出被检产品的等效标准漏率。
背压法的优点是检测灵敏度高,能实现小型密封容器产品的泄漏检测,可以进行批量化检测。
背压法的缺点是不能进行大型密封容器的漏,sf6充气柜真空箱测漏系统,否则由于密封腔体容积太大,导致加压时间太长。此外,每个测量漏率都对应两个等效标准漏率,在细检完成后还需要采用其它方法进行粗检,排除大漏的可能。
背压法的检漏主要应用于各种电子元器件产品检漏。
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