




一、负压法
负压法是一种常见而方便的检漏方法。当进行---气检漏时,---被连接到充满---气的瓶子中,并且使用喷将---喷射到泄漏部分。如果---气从泄漏孔流入压力容器装置,充气柜真空箱检漏设备,装置中---气的分压将上升,泄漏率将显示在---气检漏设备上。它是否合格取决于标准泄漏率。如果超过标准泄漏率,电力环网柜真空箱检漏设备,将被视为不合格。
二、正压法
正压方法是首先用一种以上的---压---气或---气的混合气体填充压力容器装置。在压力容器装置的外部检测中,泄漏孔泄漏到外部---气中,然后找到泄漏孔。当用抽吸搜索---气时,一旦---气被吸入,---气检漏设备将显示泄漏率值。在这种情况下,由于压力容器装置的外部是一个---压,充入压力容器装置的气压需要至少一个---压或更多个---压。然而,压力不应太高。如果压力过高,插入设备的压力表或其他插件会弹出,造成伤害和其他危险事故。
三、---罩法
在这种方法中,用塑料薄膜包裹被测容器,首先除去罩子中的空气,然后充入---气或---气混合气体,检漏设备,检漏仪与被测容器的内部连接,当检漏仪显示泄漏率时,指示泄漏。这个泄漏率称为总泄漏率。总泄漏率是所有泄漏率的总和。如果总泄漏率不超过标准值,则每个泄漏率不超过标准值;如果总泄漏率超过标准值,检查每个点的泄漏率是否超过标准值。然后调整修改超过标准值的泄漏孔,直至达到合格标准。
---质谱检漏仪(helium mass spectrometerleakdetector)为气体工业名词术语,用---气或者氢气作示漏气体,以气体分析仪检测---气而进行检漏的质谱仪。---气的本底噪声低,分子量及粘滞系数小,因而易通过漏孔并易扩散;另外,---系惰性气体,不腐蚀设备,故常用---作示漏气体。将这种气体喷到接有气体分析仪(调整到仅对---气反应的工作状态)的被检容器上,若容器有漏孔,则分析仪即有所反应,从而可知漏孔所在及漏气量大小。
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---质谱检漏仪是根据质谱学原理,用---气作探索气体制成的气密性检测仪器.其灯丝发射出来的电子在电离室内来回的振荡,sf6真空箱检漏设备,与电离室内气体和经被检件漏孔进入电离室的---气相互碰撞使其电离成正离子,这些离子在加速电场作用下进入磁场,由于洛伦兹力作用产生偏转,形成圆弧形轨道,轨道半径
r ——离于偏转轨道半径(cm) b ——磁场强度(t)
m/z ——离子的质(量)/(电)荷比(正整数)
u ——离子加速电压(v)
由上式可知,当 r、b 为定值时,改变加速电压可使不同的离子通过磁场和接收缝到达接收极而被检测。
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